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日本日置電氣化學阻抗分析儀

更新時間：2019-05-31

日本日置電氣化學阻抗分析儀 IM3590
用于測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC（電氣雙層電容）

● 適用于離子運動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬范圍信號源
● 1臺機器即可實現LCR測量、掃描測量的連續測量和高速檢查
● 可測量電池的無負載狀態產生的內部電阻
● 較快2ms的高速測量，實現掃描測量的高速化
● 基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發測量均可對應

IM3590日本日置電氣化學阻抗分析儀的詳細資料

一、日本日置電氣化學阻抗分析儀IM3590的優點

用于測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容)

適用于離子運動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬范圍信號源

1臺機器即可實現LCR測量、掃描測量的連續測量和高速檢查

可測量電池的無負載狀態產生的內部電阻

zui快2ms的高速測量，實現掃描測量的高速化

基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發測量均可對應

適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻(LCR)測量

注：主機不帶測試治具。請從選件中選擇測試治具和探頭。
※ RS-232C用連接線可使用普通的對應聯鎖的交叉線。RS-232C連接線9637僅可在不使用硬件流程控制時使用。

二、日本日置電氣化學阻抗分析儀IM3590的基本參數

測量模式	LCR模式，連續測量（LCR/分析），分析模式（頻率或電平掃描，溫度特性，等價電路分析）
測量參數	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (直流電阻), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, T, σ (導電率), ε (電容率)
測量量程	100mΩ～100MΩ, 10檔量程 (所有參數均由Z規定)
顯示范圍	Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, σ, ε : ± (0.000000 [単位]～9.999999G [單位]) 僅Z和Y為值顯示 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.000000～9.999999) Q: ± (0.00～99999.99), Δ%: ± (0.0000%～999.9999%) T: -10.0℃～99.9℃
基本精度	Z: ±0.05% rdg. θ: ±0.03°
測量頻率	1 mHz～200 kHz (1 mHz～10 Hz步進)
測量信號電平	普通模式： V模式，CV模式：5 mV～5 V rms，1 mV rms步進 CC模式：10 μA～50 mA rms，10 μA rms步進低阻抗高精度模式： V模式，CV模式：5 mV～2.5 V rms, 1 mV rms步進 CC模式：10 μA～100 mA rms, 10 μA rms步進
輸出電阻	普通模式：100 Ω，低電阻高精度模式：25 Ω
顯示	彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF
測量時間	2ms（1kHz，FAST，顯示屏OFF，代表值）
功能	DC偏壓測量，直流電阻溫度補償（標準溫度換算顯示），溫度測量，電池測量（自動DC偏壓外加方法），BIN測量（分類功能），面板讀取·保存，存儲功能
接口	EXT I/O（handler），USB通訊，USB存儲選件：可安裝RS-232C/GP-IB/LAN其中之一
電源	AC 100～240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量	330W × 119H × 168D mm, 3.1 kg
附件	電源線×1，使用說明書×1，CD-R（通訊說明書，使用軟件）×1

三、IM3590的選件

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