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日本日置 C測試儀
更新時間：2019-05-31
日本日置 C測試儀 3504-40/50/60封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等● 高速測量2ms● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
3504-40/50/60日本日置 C測試儀的詳細資料
日本日置 C測試儀 3504-40/50/60
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
注意：
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
日本日置 C測試儀 3504-40/50/60
| 測量參數 | Cs,Cp（電容）,D（損耗系數tanδ） |
|---|---|
| 測量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數 |
| 測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
| 測量信號電平 | 恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz) |
| 輸出電阻 | 5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時） |
| 顯示 | 發光二級管 （6位表示，滿量程計算器根據量程而定） |
| 測量時間 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同 |
| 功能 | BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標配), GP-IB接口(3504-40除外) |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 大110VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 | 電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1 |
上海君達儀器儀表有限公司
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