時(shí)代超聲波測(cè)厚儀采用高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量。可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量。本儀器可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。
時(shí)代超聲波測(cè)厚儀的原理
根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。
是集當(dāng)代科技電子技術(shù)和測(cè)量技術(shù)于一體的、*的無(wú)損檢測(cè)儀器，采用微電腦對(duì)數(shù)據(jù)時(shí)行分析、處理、顯示，采用高度優(yōu)化的測(cè)量電路，具有測(cè)量精度高、范圍寬、操作簡(jiǎn)便、工作穩(wěn)定可靠等特點(diǎn)。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。
影響測(cè)量精度的原因：
(1)覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
(2)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)；
(3)任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響；
(4)對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),，即對(duì)靠近試樣樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的；
(5)試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度，粗糙度增大，影響增大。
